膜厚測(cè)試儀在日常中一定要做好以下維護(hù)工作
點(diǎn)擊次數(shù):995 更新時(shí)間:2020-06-26
膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
膜厚測(cè)試儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。
膜厚測(cè)試儀使用方法說明:
測(cè)定準(zhǔn)備:
1、確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。
2、探頭的選擇和設(shè)定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對(duì)準(zhǔn)測(cè)定對(duì)象,在本體上進(jìn)行設(shè)定。
膜厚測(cè)試儀的測(cè)定方法:
1、探頭的選擇和安裝方法:確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài),與測(cè)定對(duì)象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。
2、調(diào)整:確認(rèn)測(cè)定對(duì)象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時(shí)要進(jìn)行調(diào)整。
3、測(cè)定:在探頭的末端加一定的負(fù)荷,即使用“一點(diǎn)接觸定壓式”。抓住與測(cè)定部接近的部分,迅速在與測(cè)定面成垂直的角度按下。下述的測(cè)定,每次都要從探頭的前端測(cè)定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測(cè)定平面時(shí),如果采用探頭適配器,可以更加穩(wěn)定地進(jìn)行測(cè)定。
日常維護(hù)方法:
1、每次工作前均應(yīng)使用酒精棉球?qū)y(cè)量頭、下跕鐵等接觸試樣的部位擦拭干凈;
2、測(cè)量試樣時(shí),儀器周圍的環(huán)境務(wù)必達(dá)到要求,否則將會(huì)影響測(cè)試精度;
3、測(cè)試過程中,應(yīng)注意不要碰到測(cè)量頭、測(cè)量桿、跕鐵等部件,以免影響測(cè)量精度;
4、拿取試樣時(shí),*使用手套,以免在試樣上留下指紋而影響測(cè)量精度;
5、試樣務(wù)必干凈、無折皺及其他缺陷;
6、測(cè)量結(jié)束后,應(yīng)注意把測(cè)量頭落到測(cè)量座上,然后再關(guān)掉電源;
7、嚴(yán)禁擅自拆卸測(cè)量頭,否則喪失測(cè)試精度;
8、避免與大功率設(shè)備同線使用。