X射線鍍層測厚儀應用及物理意義
點擊次數(shù):1068 更新時間:2017-04-24
X射線鍍層測厚儀有著快速,準確,非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。
X射線鍍層測厚儀X射線熒光的物理意義:
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:鈉米,nm)描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運轉(zhuǎn),它們按不同的能量分布在不同的電子殼層:分布在同一殼層的電子具有相同的能量。
當具有高能量的入射(一次)X射線與原子發(fā)生碰撞時,會打破原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層(如:K層)的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補充相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。儀器通過探測不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性,進行分析計算得到各鍍層厚度,這一個過程就是我們所說的X射線鍍層測厚儀。