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聯(lián)系我們X熒光鍍層測厚儀性能，快速無損
點擊次數(shù)：975 更新時間：2017-03-23
X熒光鍍層測厚儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應(yīng)用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。
X熒光鍍層測厚儀工作原理：
當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
X熒光鍍層測厚儀是一款快速、無損、準(zhǔn)確檢測鍍層厚度新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測，可以檢測如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等，zui多一次分析五層。
X熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢：
精密的三維移動平臺；
的樣品觀測系統(tǒng)；
先進的圖像識別；
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測；
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換；
雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞；
采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度；
全自動智能控制方式，一鍵式操作；
開機自動退出自檢、復(fù)位；
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；
關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果。
